基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试

随着集成电路技术的飞速发展，系统级芯片（SoC）的设计复杂性日益增长，对可测试性设计（DFT）和调试技术提出了更高要求。本文基于功能视角，探讨了SoC可测试性设计的核心策略，包括测试访问机制、内建自测试（BIST）和边界扫描技术，并提出了系统级调试的优化方法。通过结合功能模拟与实际测试环境，实现了从芯片级别到系统级别的连贯调试流程，显著提升了故障检测效率和设计良率。本研究为复杂SoC设计提供了实用的技术框架，对缩短开发周期和降低测试成本具有指导意义。——摘自《电子器件》2008年第04期，吾喜杂志网电子版。